Zjišťování vybraných povrchových struktur pomocí skenovacího mechanismu a měření kontaktního potenciálu, jejich aplikace v bezpečnostním průmyslu

DSpace Repository

Language: English čeština 

Zjišťování vybraných povrchových struktur pomocí skenovacího mechanismu a měření kontaktního potenciálu, jejich aplikace v bezpečnostním průmyslu

Show full item record

No preview available
Title: Zjišťování vybraných povrchových struktur pomocí skenovacího mechanismu a měření kontaktního potenciálu, jejich aplikace v bezpečnostním průmyslu
Author: Čechmánek, Michal
Advisor: Navrátil, Milan
Abstract: Tato diplomová práce se zabývá měřením kontaktního potenciálu na vybraném povrchu pomocí skenovacího mechanismu. Byla především zaměřena na sestrojení vhodné aparatury použitelné pro měření kontaktního potenciálu na různých předmětech a papilárních linií, které se vyskytují na pokožce z vnitřní strany u článků prstů. V praktické části jsou popsány měřicí experimenty na sestavené aparatuře.
URI: http://hdl.handle.net/10563/10635
Date: 2009-05-22
Availability: Pouze v rámci univerzity
Department: Ústav elektrotechniky a měření
Discipline: Bezpečnostní technologie, systémy a management
Grade for thesis and defense: C 11576


Citace závěřečné práce

Files in this item

Files Size Format View
čechmánek_2009_dp.pdfBlocked 2.113Mb PDF
čechmánek_2009_vp.pdf 428.6Kb PDF View/Open
čechmánek_2009_op.pdf 617.7Kb PDF View/Open

This item appears in the following Collection(s)

Show full item record

Find fulltext

Search DSpace


Browse

My Account