Možnosti Ramanovy spektroskopie při analýze padělků elektronických součástek

Abstract

Tato diplomová práce je zaměřena na objasnění pravosti elektronických součástek, zda pouţité materiály, z nichţ se pouzdra součástek skládají, obsahují stejné látkové sloţení jako originální ověřené součástky. Objasnění materiálového zastoupení je zkoumáno pomocí analytické metody Ramanovy spektroskopie. Teoretická část práce je zaměřena na výskyt nepůvodních součástek, dále jsou také uvedeny specifické znaky objevující se u nepůvodních součástek, ale rovněţ jsou představeny další metody přispívající k odhalení potenciálních padělků. V praktické části jsou popsána naměřená Ramanova spektra vybraných vzorků. Na průběh experimentálního měření navazuje také kapitola Vyhodnocení a diskuze hodnotící průběh měření.