Systém pro programování a testování zařízení s procesory ARM

Juřena, Tomáš

Systém pro programování a testování zařízení s procesory ARM

DSpace Repository

Language: English čeština

Systém pro programování a testování zařízení s procesory ARM

dc.contributor.advisor	Dulík, Tomáš
dc.contributor.author	Juřena, Tomáš
dc.date.accessioned	2015-03-08T21:16:47Z
dc.date.available	2015-03-08T21:16:47Z
dc.date.issued	2014-02-28
dc.identifier	Elektronický archiv Knihovny UTB
dc.identifier.uri	http://hdl.handle.net/10563/30160
dc.description.abstract	Prezentovaný systém je určen pro hromadnou výrobu, kde zajišťuje programování zařízení s mikroprocesorem ARM Cortex M firmy STMicroelectronics pomocí protokolu IAP a následné testování naprogramovaných zařízení skrze jejich rozhraní Ethernet. Pro interakci s obsluhou programátor obsahuje LCD display a skupinu tlačítek. Díky tomu je možné cílové zařízení naprogramovat pomocí některého z více firmwarů uložených v paměti a případně měnit některé konstanty, jako např. MAC adresy programovaných zařízení. Další částí práce je testování zařízení s portem RJ-45 v teplotní komoře, kdy je zařízení vystavováno prudkým teplotním výkyvům pro odhalení hardwarových vad. Testování je realizováno pomocí posílání dat přes zařízení a měření ztrátovosti paketů v závislosti na různých teplotách v komoře. Systém graficky vykreslí průběh teploty a počet ztracených paketů v čase.
dc.format	44 s.
dc.language.iso	cs
dc.publisher	Univerzita Tomáše Bati ve Zlíně
dc.rights	Bez omezení
dc.subject	ARM	cs
dc.subject	IAP	cs
dc.subject	Cortex-M	cs
dc.subject	testování	cs
dc.subject	Ethernet	cs
dc.subject	ARM	en
dc.subject	IAP	en
dc.subject	Cortex-M	en
dc.subject	testing	en
dc.subject	Ethernet	en
dc.title	Systém pro programování a testování zařízení s procesory ARM
dc.title.alternative	A System for Programming and Testing Devices with ARM Processors
dc.type	bakalářská práce	cs
dc.contributor.referee	Bližňák, Michal
dc.date.accepted	2014-06-24
dc.description.abstract-translated	Presented system aims to mass production where it is used to program devices with ARM Cortex M CPU by IAP protocol and to test the produced devices with Ethernet interface. For interaction with user, the programmer contains LCD display and group of buttons. Thanks to this solution, it is possible to program device with one of the firmware images stored in the internal memory of programmer and it is also possible to change some constants such as MAC address. Other part of this thesis describes a system for testing devices with RJ-45 connectors in temperature test chamber. The device is exposed to fast temperature changes to discover hardware errors. Testing is realized by sending packets through the tested device and measuring packets loss during different temperatures in chamber. System displays results of testing as graphs of packets loss over time.
dc.description.department	Ústav automatizace a řídicí techniky
dc.thesis.degree-discipline	Informační a řídicí technologie	cs
dc.thesis.degree-discipline	Information and Control Technologies	en
dc.thesis.degree-grantor	Univerzita Tomáše Bati ve Zlíně. Fakulta aplikované informatiky	cs
dc.thesis.degree-grantor	Tomas Bata University in Zlín. Faculty of Applied Informatics	en
dc.thesis.degree-name	Bc.
dc.thesis.degree-program	Inženýrská informatika	cs
dc.thesis.degree-program	Engineering Informatics	en
dc.identifier.stag	36494
utb.result.grade	B
dc.date.submitted	2014-06-13
local.subject	testování softwaru	cs
local.subject	testování počítačů	cs
local.subject	programování	cs
local.subject	software testing	en
local.subject	computers testing	en
local.subject	programming	en