| dc.contributor.advisor |
Křesálek, Vojtěch
|
|
| dc.contributor.author |
Kaňovský, Radek
|
|
| dc.date.accessioned |
2010-07-13T16:55:18Z |
|
| dc.date.available |
2010-07-21T08:57:05Z |
|
| dc.date.issued |
2006-05-26 |
|
| dc.identifier |
Elektronický archiv Knihovny UTB |
cs |
| dc.identifier.uri |
http://hdl.handle.net/10563/1234
|
|
| dc.description.abstract |
Diplomová práce obsahuje základní souhrn typů šumů a jejich chování. V práci je ucelený popis návrhu a konstrukce měřící cely pro nedestruktivní testování zejména polovodičové diody. Soustředili jsme se především na šumovou analýzu luminiscenční diody, protože v naší laboratoři se zabýváme křemíkovými nanomateriály, na nichž měříme šumové projevy. Obzvláště sledovaným jevem je elektroluminiscence těchto vzorků. Je známo, že pro diagnostiku elektronických struktur pomocí šumů je obzvláště výhodné studium 1/f šumů. Tento šum jsme zkoumali především u svítících diod, u kterých jsme měřili spektrum šumu při nízkých frekvencích. Z experimentů vyplynulo, že koeficient alfa, jež se určuje z regrese naměřených dat, se mění v závislosti na poloze pracovního bodu na voltampérové charakteristice luminiscenční diody. Měření bylo provedeno pomocí synchronního detektoru Lock-in SR 830 DSP a softwaru HP VEE 6.0 . |
cs |
| dc.format |
101 s., 4 s. obr. příloh |
cs |
| dc.format.extent |
3525788 bytes |
cs |
| dc.format.mimetype |
application/pdf |
cs |
| dc.language.iso |
cs |
|
| dc.publisher |
Univerzita Tomáše Bati ve Zlíně |
|
| dc.rights |
Práce bude přístupná pouze v rámci univerzity od 26.05.2008 |
|
| dc.subject |
fluctuation
|
en |
| dc.subject |
noise
|
en |
| dc.subject |
semiconductor diode
|
en |
| dc.subject |
Lock-in SR 830 DSP
|
en |
| dc.subject |
HP VEE 6.0
|
en |
| dc.subject |
fluktuace
|
cs |
| dc.subject |
šum
|
cs |
| dc.subject |
polovodičová dioda
|
cs |
| dc.subject |
Lock-in SR 830 DSP
|
cs |
| dc.subject |
HP VEE 6.0
|
cs |
| dc.title |
Zpracování náhodných signálů při šumové diagnostice polovodičových struktur. |
cs |
| dc.title.alternative |
Processing of random signals during the diagnostics of semiconductor structures |
en |
| dc.type |
diplomová práce |
cs |
| dc.contributor.referee |
Chobola, Zdeněk |
|
| dc.date.accepted |
2006-06-08 |
|
| dc.description.abstract-translated |
My master thesis consists of basic types of noises and their behaviour. There is a complete description of suggestion and construction of measuring box for nondestructive testing of especially semiconductor diode. We focused specially in noise analysis of luminescence diode, because our laboratory is engaged in silicon nanomaterials, which are used for measurements of noises. Especially monitored phenomenon is electroluminescence of these samples. It is generally known that studying of 1/f noises is very useful for diagnostics of electronic structures by the help of noises. We explored this type of noise especially at luminescence diode, where we measured spectrum of noise in low frequency. The result of experiments was that coefficient alfa, which is determined from regression of measuring data,changes in relation of position of working point on the IR characteristic of luminescence diode. The measurement was done by synchronous detector Lock-in SR 830 DSP and software HP VEE 6.0 . |
en |
| dc.description.department |
Ústav automatizace a řídicí techniky |
cs |
| dc.description.result |
obhájeno |
cs |
| dc.parent.uri |
http://hdl.handle.net/10563/91
|
cs |
| dc.parent.uri |
http://hdl.handle.net/10563/220
|
cs |
| dc.thesis.degree-discipline |
Automatické řízení a informatika |
cs |
| dc.thesis.degree-discipline |
Automatic Control and Informatics |
en |
| dc.thesis.degree-grantor |
Tomas Bata University in Zlín. Faculty of Applied Informatics |
en |
| dc.thesis.degree-grantor |
Univerzita Tomáše Bati ve Zlíně. Fakulta aplikované informatiky |
cs |
| dc.thesis.degree-name |
Ing. |
cs |
| dc.thesis.degree-program |
Engineering Informatics |
en |
| dc.thesis.degree-program |
Inženýrská informatika |
cs |
| dc.identifier.stag |
4017
|
|
| dc.date.assigned |
2006-02-14 |
|
| utb.result.grade |
A |
|
| local.subject |
polovodiče
|
cs |
| local.subject |
testování
|
cs |
| local.subject |
semiconductors
|
en |
| local.subject |
testing
|
en |
