Přehledový materiál o diagnostických zařízeních v mikroelektronice

Abstract

Tato práce se věnuje operačním pamětem a jejich testování. Skládá se ze dvou částí. První část obsahuje teorii zaměřenou na operační paměti a druhá část se zabývá hardwarovým a softwarovým testováním počítačových pamětí. V práci je zahrnuta historie, současnost, budoucí vývoj a problémy při vývoji nejpoužívanějších operačních pamětí. Dále také obsahuje konkrétní testovací vzorky, používané při testování pamětí. Práce je zakončena přehledem dostupných testovacích zařízení pro testování operačních pamětí a nejpoužívanějším testovacím programovým vybavením.