Analýza povrchu čipu konfokální mikroskopií
Repozitář DSpace/Manakin
- Domovská stránka DSpace
- Kvalifikační práce dle fakult
- Fakulta aplikované informatiky
- Ústav elektrotechniky a měření
- Diplomové práce
- Zobrazit záznam
Jazyk:
English čeština
Analýza povrchu čipu konfokální mikroskopií
Není dostupný náhled
| Název: | Analýza povrchu čipu konfokální mikroskopií |
| Autor: | Aliaj, Rafaela |
| Vedoucí: | Neumann, Petr |
| Abstrakt: | Tato práce se zabývá možnostmi využití konfokální mikroskopie k rozpoznání rysů nepůvodních systémů na čipu (SoC) integrovaného obvodu a je jednou z prvních v oblasti aplikace konfokální mikroskopie. Práce sestává ze dvou částí, části teoretické a části experimentální. |
| URI: | http://hdl.handle.net/10563/49843 |
| Datum: | 2021-07-23 |
| Dostupnost: | Bez omezení |
| Ústav: | Ústav elektroniky a měření |
| Studijní obor: | Security Technologies, Systems and Management |
| Klasifikace závěřečné práce a její obhajoby: | A
|
Citace závěřečné práce
Soubory tohoto záznamu
| Soubory | Velikost | Formát | Zobrazit | Popis |
|---|---|---|---|---|
| aliaj_2021_dp.pdf | 8.849Mb |
Zobrazit/ |
None | |
| aliaj_2021_op.pdf | 120.2Kb |
Zobrazit/ |
None | |
| aliaj_2021_vp.doc | 91Kb | Neznámý |
Zobrazit/ |
None |
Tento záznam se objevuje v následujících kolekcích
-
Diplomové práce [1463]
