Zpracování náhodných signálů při šumové diagnostice polovodičových struktur.

Abstract

Diplomová práce obsahuje základní souhrn typů šumů a jejich chování. V práci je ucelený popis návrhu a konstrukce měřící cely pro nedestruktivní testování zejména polovodičové diody. Soustředili jsme se především na šumovou analýzu luminiscenční diody, protože v naší laboratoři se zabýváme křemíkovými nanomateriály, na nichž měříme šumové projevy. Obzvláště sledovaným jevem je elektroluminiscence těchto vzorků. Je známo, že pro diagnostiku elektronických struktur pomocí šumů je obzvláště výhodné studium 1/f šumů. Tento šum jsme zkoumali především u svítících diod, u kterých jsme měřili spektrum šumu při nízkých frekvencích. Z experimentů vyplynulo, že koeficient alfa, jež se určuje z regrese naměřených dat, se mění v závislosti na poloze pracovního bodu na voltampérové charakteristice luminiscenční diody. Měření bylo provedeno pomocí synchronního detektoru Lock-in SR 830 DSP a softwaru HP VEE 6.0 .