Stanovení kritické micelární koncentrace povrchově aktivních látek a jejich směsí

Abstract

Bakalářská práce se zabývá povrchově aktivními látkami a popisuje jejich vlastnosti, klasifikaci a možnosti využití. Pozornost je věnována stanovení povrchového napětí tenziometrickou metodou. Měření povrchového napětí je použito ke stanovení kritické micelární koncentrace jak čistých, neionických povrchově aktivních látek TWEEN 20 a TWEEN 60, tak také jejich směsí (30:70, 50:50, 70:30; m/m). V teoretické i experimentální části je diskutována možnost výskytu více druhů micel ve studovaných směsích.