Analýza silikátových materiálů pomocí XRF

Abstract

Byla testována možnost nedestruktivní kvantitativní chemické analýzy silikátových ma-teriálů pomocí energodispersní rentgenové fluorescenční spektrometrie na přístroji ElvaX. Rovněž byly ověřovány efekty zeslabování a zesilování rentgenových fluorescenčních spekter majoritních prvků silikátové matrice přítomností dalších prvků s blízkou atomovou hmotností. Ke kalibraci byly využity směsné standardy připravené z následujících chemiká-lií: Al2O3, SiO2, CaSO4, K2CO3, CaCO3, TiO2 a Fe2O3. Kalibrační závislosti byly počítány pomocí obslužného software spektrometru ElvaX metodou vícerozměrové regresní analý-zy. Parametry regresní analýzy byly záměrně voleny tak, aby bylo dosaženo co nejmenšího počtu stupňů volnosti pro jednotlivé analyzované prvky (Al, Si, S, K, Ca, Ti, Fe) a byly tak eliminovány zdánlivé závislosti mezi obsahy jednotlivých prvků. Získané kalibrace byla testována na dvou referenčních vzorcích známého složení a několika reálních vzorcích sili-kátových materiálů.