Možnosti využití 2D a 3D skenovacích metod pro snímání povlakovaných povrchů

Repozitář DSpace/Manakin

Jazyk: English čeština 

Možnosti využití 2D a 3D skenovacích metod pro snímání povlakovaných povrchů

Zobrazit celý záznam

Není dostupný náhled
Název: Možnosti využití 2D a 3D skenovacích metod pro snímání povlakovaných povrchů
Autor: Jemelka, Jakub
Vedoucí: Kubišová, Milena
Abstrakt: V této práci jsou popsány základní parametry jakosti povrchu vhodné pro výpočet korelací, včetně teoretického popisu i matematických vzorců. Další část se věnuje matematickému principu korelace.
URI: http://hdl.handle.net/10563/38064
Datum: 2016-01-08
Dostupnost: Bez omezení
Ústav: Ústav výrobního inženýrství
Studijní obor: Technologická zařízení
Klasifikace závěřečné práce a její obhajoby: B 42943


Citace závěřečné práce

Soubory tohoto záznamu

Soubory Velikost Formát Zobrazit Popis
jemelka_2016_dp.pdf 3.629Mb PDF Zobrazit/otevřít None
jemelka_2016_op.pdf 512.8Kb PDF Zobrazit/otevřít None
jemelka_2016_vp.pdf 520.7Kb PDF Zobrazit/otevřít None

Tento záznam se objevuje v následujících kolekcích

Zobrazit celý záznam

Find fulltext

Prohledat DSpace


Procházet

Můj účet