Současné trendy v hodnocení topografie povrchu pomocí světelné mikroskopie

Abstract

Tato práce se věnuje problematice světelné mikroskopie, konkrétně mikroskopickým metodám, které se používají při hodnocení povrchů různých materiálů. Nejprve pojednává o optických základech světelné mikroskopie a vysvětluje některé pojmy z optiky (viditelné světlo, polarizace, odraz, lom a rozklad světla, interference, difrakce atd.). Ve druhé části se zabývá již samotným světelným mikroskopem, jeho omezeními, různými mikroskopickými metodami používanými k hodnocení topografie povrchů a možnou budoucností světelné mikroskopie. V poslední, praktické části se snaží srovnat dostupné mikroskopické metody na vzorku barevné tkaniny.