Přehledový materiál o diagnostických zařízeních v mikroelektronice

Pernička, Rostislav

Přehledový materiál o diagnostických zařízeních v mikroelektronice

DSpace Repository

Language: English čeština

Přehledový materiál o diagnostických zařízeních v mikroelektronice

dc.contributor.advisor	Neumann, Petr
dc.contributor.author	Pernička, Rostislav
dc.date.accessioned	2010-07-13T12:34:04Z
dc.date.available	2010-07-13T12:34:04Z
dc.date.issued	2006-06-16
dc.identifier	Elektronický archiv Knihovny UTB	cs
dc.identifier.uri	http://hdl.handle.net/10563/492
dc.description.abstract	Tato práce se věnuje operačním pamětem a jejich testování. Skládá se ze dvou částí. První část obsahuje teorii zaměřenou na operační paměti a druhá část se zabývá hardwarovým a softwarovým testováním počítačových pamětí. V práci je zahrnuta historie, současnost, budoucí vývoj a problémy při vývoji nejpoužívanějších operačních pamětí. Dále také obsahuje konkrétní testovací vzorky, používané při testování pamětí. Práce je zakončena přehledem dostupných testovacích zařízení pro testování operačních pamětí a nejpoužívanějším testovacím programovým vybavením.	cs
dc.format	73 s.	cs
dc.format.extent	1370937 bytes	cs
dc.format.mimetype	application/pdf	cs
dc.language.iso	cs
dc.publisher	Univerzita Tomáše Bati ve Zlíně
dc.rights	Pouze v rámci univerzity
dc.subject	main storage	en
dc.subject	memory module	en
dc.subject	buffer	en
dc.subject	chipset	en
dc.subject	memory media	en
dc.subject	test pattern	en
dc.subject	tester	en
dc.subject	benchmark software	en
dc.subject	operační paměť	cs
dc.subject	paměťový modul	cs
dc.subject	vyrovnávací paměť	cs
dc.subject	čipset	cs
dc.subject	paměťová média	cs
dc.subject	testovací vzorky	cs
dc.subject	testovací zařízení	cs
dc.subject	testovací software	cs
dc.title	Přehledový materiál o diagnostických zařízeních v mikroelektronice	cs
dc.title.alternative	Overview material about diagnostic arrangements in microelectronics	en
dc.type	bakalářská práce	cs
dc.contributor.referee	Adámek, Milan
dc.date.accepted	2006-06-29
dc.description.abstract-translated	This work deals with electronic memories and their testing. It is composed from two parts. The first part includes the theory specialized on the computer memory and the second part deals with hardware and software computer memory testing. The work describes the history, present state and the future development trends. The development problems are also mentioned. As an example of testing methods, some test patterns used for memory testing are attached. Work mentions the survey of accessible benchmark arrangement for computing memory testing and most widely used benchmark software equipment.	en
dc.description.department	Ústav aplikované informatiky	cs
dc.description.result	obhájeno	cs
dc.parent.uri	http://hdl.handle.net/10563/76	cs
dc.parent.uri	http://hdl.handle.net/10563/220	cs
dc.thesis.degree-discipline	Informační technologie	cs
dc.thesis.degree-discipline	Information Technologies	en
dc.thesis.degree-grantor	Tomas Bata University in Zlín. Faculty of Applied Informatics	en
dc.thesis.degree-grantor	Univerzita Tomáše Bati ve Zlíně. Fakulta aplikované informatiky	cs
dc.thesis.degree-name	Bc.	cs
dc.thesis.degree-program	Engineering Informatics	en
dc.thesis.degree-program	Inženýrská informatika	cs
dc.identifier.stag	3257
dc.date.assigned	2006-02-14
utb.result.grade	A
local.subject	mikroelektronika	cs
local.subject	technická diagnostika	cs
local.subject	microelectronics	en
local.subject	technical diagnostics	en