Analýza povrchu čipu konfokální mikroskopií

DSpace Repository

Login

Language: English čeština 

Analýza povrchu čipu konfokální mikroskopií

Show full item record

No preview available
Title: Analýza povrchu čipu konfokální mikroskopií
Author: Aliaj, Rafaela
Advisor: Neumann, Petr
Abstract: Tato práce se zabývá možnostmi využití konfokální mikroskopie k rozpoznání rysů nepůvodních systémů na čipu (SoC) integrovaného obvodu a je jednou z prvních v oblasti aplikace konfokální mikroskopie. Práce sestává ze dvou částí, části teoretické a části experimentální.
URI: http://hdl.handle.net/10563/49843
Date: 2021-07-23
Availability: Bez omezení
Department: Ústav elektroniky a měření
Discipline: Security Technologies, Systems and Management
Grade for thesis and defense: A 60026


Citace závěřečné práce

Files in this item

Files Size Format View Description
aliaj_2021_dp.pdf 8.849Mb PDF View/Open None
aliaj_2021_op.pdf 120.2Kb PDF View/Open None
aliaj_2021_vp.doc 91Kb Unknown View/Open None

This item appears in the following Collection(s)

Show full item record

Find fulltext

Search DSpace


Browse

My Account