Detekční limity XRF spektrometru pro pevné vzorky

Repozitář DSpace/Manakin

Přihlásit se

Jazyk: English čeština 

Detekční limity XRF spektrometru pro pevné vzorky

Zobrazit celý záznam

Není dostupný náhled
Název: Detekční limity XRF spektrometru pro pevné vzorky
Autor: Omelková, Martina
Vedoucí: Bednařík, Vratislav
Abstrakt: Předmětem této bakalářské práce je stanovení detekčních limitů energeticky disperzního rentgenového fluorescenčního spektrometru ElvaX pro stanovení vybraných prvků v pevných matricích. Detekční limity byly určeny pro 10 prvků v 5 různých matricích. Pro vyhodnocení detekčních limitů byla využita metoda kalibrační křivky, metoda slepého pokusu a vyjádření limitu detekce pomocí limitu slepého pokusu. Také byla zkoušena nová metoda výpočtu limitu detekce, která využívá nejnižší naměřené koncentrace.
URI: http://hdl.handle.net/10563/33198
Datum: 2015-01-20
Dostupnost: Bez omezení
Ústav: Ústav inženýrství ochrany životního prostředí
Studijní obor: Inženýrství ochrany životního prostředí
Klasifikace závěřečné práce a její obhajoby: A 38808


Citace závěřečné práce

Soubory tohoto záznamu

Soubory Velikost Formát Zobrazit
omelková_2015_dp.pdf 2.573Mb PDF Zobrazit/otevřít
omelková_2015_vp.docx 74.24Kb Microsoft Word 2007 Zobrazit/otevřít
omelková_2015_op.doc 109Kb Microsoft Word Zobrazit/otevřít

Tento záznam se objevuje v následujících kolekcích

Zobrazit celý záznam

Find fulltext

Prohledat DSpace


Procházet

Můj účet