Možnosti využití 2D a 3D skenovacích metod pro snímání povlakovaných povrchů

DSpace Repository

Login

Language: English čeština 

Možnosti využití 2D a 3D skenovacích metod pro snímání povlakovaných povrchů

Show full item record

No preview available
Title: Možnosti využití 2D a 3D skenovacích metod pro snímání povlakovaných povrchů
Author: Jemelka, Jakub
Advisor: Kubišová, Milena
Abstract: V této práci jsou popsány základní parametry jakosti povrchu vhodné pro výpočet korelací, včetně teoretického popisu i matematických vzorců. Další část se věnuje matematickému principu korelace.
URI: http://hdl.handle.net/10563/38064
Date: 2016-01-08
Availability: Bez omezení
Department: Ústav výrobního inženýrství
Discipline: Technologická zařízení
Grade for thesis and defense: B 42943


Citace závěřečné práce

Files in this item

Files Size Format View Description
jemelka_2016_dp.pdf 3.629Mb PDF View/Open None
jemelka_2016_op.pdf 512.8Kb PDF View/Open None
jemelka_2016_vp.pdf 520.7Kb PDF View/Open None

This item appears in the following Collection(s)

Show full item record

Find fulltext

Search DSpace


Browse

My Account