Současné trendy v hodnocení topografie povrchu pomocí světelné mikroskopie

DSpace Repository

Login

Language: English čeština 

Současné trendy v hodnocení topografie povrchu pomocí světelné mikroskopie

Show full item record

No preview available
Title: Současné trendy v hodnocení topografie povrchu pomocí světelné mikroskopie
Author: Ryzí, Adriana
Advisor: Čermák, Roman
Abstract: Tato práce se věnuje problematice světelné mikroskopie, konkrétně mikroskopickým metodám, které se používají při hodnocení povrchů různých materiálů. Nejprve pojednává o optických základech světelné mikroskopie a vysvětluje některé pojmy z optiky (viditelné světlo, polarizace, odraz, lom a rozklad světla, interference, difrakce atd.). Ve druhé části se zabývá již samotným světelným mikroskopem, jeho omezeními, různými mikroskopickými metodami používanými k hodnocení topografie povrchů a možnou budoucností světelné mikroskopie. V poslední, praktické části se snaží srovnat dostupné mikroskopické metody na vzorku barevné tkaniny.
URI: http://hdl.handle.net/10563/39132
Date: 2016-01-15
Availability: Bez omezení
Department: Ústav inženýrství polymerů
Discipline: Polymerní materiály a technologie
Grade for thesis and defense: A 44413


Citace závěřečné práce

Files in this item

Files Size Format View Description
ryzí_2016_dp.pdf 4.523Mb PDF View/Open None
ryzí_2016_op.doc 107Kb Unknown View/Open None
ryzí_2016_vp.pdf 238.9Kb PDF View/Open None

This item appears in the following Collection(s)

Show full item record

Find fulltext

Search DSpace


Browse

My Account